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表面形貌測量儀應用在手機外殼的檢測

更新時間:2018-06-23       點擊次數:1879
   表面形貌測量儀應用在手機外殼的檢測
  表面形貌測量儀是一種非接觸式光學3D輪廓儀,具有測量薄膜和厚膜的功能。除提供尺寸和粗糙度測量功能,還可以提供兩種類型的膜厚測量,測量較薄的涂層被證實為難度更高。
  采用這種新型方法,可以在單次測量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。無論測量的是何種元件,無論對分析速度的要求有多高,非接觸式表面形貌測量儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。
  極大地擴展了分析能力,同時又不至于讓分析程序變得更復雜。可測量各種各樣的元件和表面,不需要進行復雜的測量模式切換,也不會給中間透鏡的校準增加額外的負擔。通過標準化的方法、程序和報告,可輕松地整合到質量管理系統中。
  表面形貌測量儀對于很多需要進行高精度3D輪廓分析的應用非常有用,可測量多種類型的表面。可測量的材料類型包括:玻璃、液體墨水、光刻膠、金屬、聚合物和糊劑。
  三維形貌量測系統采用光學全場非接觸式測量技術,通過測頭直接測量獲取工件的三維形貌信息,對三維輪廓信息進行直接測量得到工件的尺寸信息。
  表面形貌測量儀對手機外殼檢測的原理:
  采用光學全場非接觸式測量技術,直接獲取手機外殼的三維形貌。通過三維形貌的點云數據進行逆向工程生成CAD模型,與手機外殼的CAD原型比對,獲得加工誤差,為產品提供質量考核依據。
  表面形貌測量儀在手機外殼中的應用:
  1.手機外殼全表面快速測量;
  2.手機3D玻璃及陶瓷外殼等構件輪廓及厚度檢測。
  這一類檢測是采用光譜共焦技術,非接觸式測量手機3D玻璃及陶瓷外殼等構件的整板翹曲度,任意截面翹曲度,整板厚度以及任意截面厚度等。

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